HAST壽命試驗箱評估PCB板的絕緣性和穩(wěn)定性受試樣品在高溫高濕環(huán)境下長期穩(wěn)定工作,或者需要在短時間內(nèi)驗證長期可靠性
| 型號:HT-HAST-180L | 瀏覽量:29 |
| 更新時間:2026-01-09 | 是否能訂做:是 |
高加速應(yīng)力測試(HAST)的核心突破在于實現(xiàn)了時間維度的壓縮。通過高溫、高濕、高壓等多應(yīng)力耦合環(huán)境,HAST能夠在短時間內(nèi)模擬產(chǎn)品在長期使用中可能遭遇的濕熱應(yīng)力。
在高溫高濕和偏壓條件下,電子器件會出現(xiàn)金屬腐蝕、絕緣材料老化、焊點開裂等典型問題。PCB上可能形成導(dǎo)電陽極細(xì)絲(CAF),導(dǎo)致內(nèi)部短路。
半導(dǎo)體與集成電路:快速評估封裝密封性、內(nèi)部腐蝕、焊點可靠性,預(yù)防現(xiàn)場失效;
汽車電子:模擬高溫高濕發(fā)動機艙環(huán)境,確保ECU、傳感器在嚴(yán)苛條件下的壽命;
航空航天與國防:驗證關(guān)鍵電子設(shè)備在高溫高壓濕熱條件下的可靠性,滿足MIL與DO標(biāo)準(zhǔn);
光伏與新能源:測試接線盒、逆變器在潮濕熱帶氣候下的絕緣與耐久性能;
消費電子:提前發(fā)現(xiàn)手機、穿戴設(shè)備在潮濕環(huán)境中的進(jìn)水、氧化風(fēng)險。
核心技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:+105℃ ~ +155℃(可選)
常用測試溫度:110℃, 130℃, 145℃
濕度范圍:50% ~ 95% RH(非飽和,可調(diào))
*部分型號支持65%-100%RH,可設(shè)定飽和模式*
壓力范圍:0.02 MPa ~ 0.6 MPa(表壓)
*約合0.2至6kg/cm2,滿足不同標(biāo)準(zhǔn)要求*
控制精度:溫度: ±0.5℃; 濕度: ±2.5% ~ ±3% RH
確保測試條件的嚴(yán)苛穩(wěn)定性和出色復(fù)現(xiàn)性
控制模式:支持干濕球控制、非飽和蒸汽、飽和蒸汽三種工作模式,適應(yīng)多樣化的測試方案需求。
遵循的核心標(biāo)準(zhǔn)
我們的設(shè)備設(shè)計與制造嚴(yán)格遵循國際及國內(nèi)主流可靠性測試標(biāo)準(zhǔn),確保您的測試數(shù)據(jù)在地球范圍內(nèi)獲得廣泛認(rèn)可:
國際電工委員會 (IEC):
IEC 60068-2-66 (試驗Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)
IEC 60749 (半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法)
固態(tài)技術(shù)協(xié)會 (JEDEC):
JESD22-A110 (高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 - HAST)
JESD22-A118 (無偏壓高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 - UHAST)
JESD22-A102 (高壓蒸煮試驗 - PCT)
國家標(biāo)準(zhǔn) (GB):
GB/T 2423.40 (環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)
汽車電子領(lǐng)域 (AEC):
AEC-Q100 (基于集成電路應(yīng)力測試的失效機理)
AEC-Q101 (分立半導(dǎo)體器件應(yīng)力測試資質(zhì))
結(jié)構(gòu):采用高強度不銹鋼壓力容器,配合蒸汽發(fā)生器與加壓系統(tǒng),形成密閉高壓環(huán)境;
工作方式:
水加熱產(chǎn)生飽和蒸汽,在密閉空間內(nèi)持續(xù)加壓;
通過精準(zhǔn)控制蒸汽溫度與壓力,實現(xiàn)設(shè)定溫濕度條件(如130℃、85%RH、0.26MPa);
優(yōu)勢:真實模擬嚴(yán)苛環(huán)境,加速材料吸濕、腐蝕、絕緣失效等過程,將數(shù)月老化壓縮至數(shù)十小時。
傳統(tǒng)測試方法周期長、環(huán)境模擬不精準(zhǔn)的問題已經(jīng)讓許多企業(yè)付出了代價。而一款基站設(shè)備通過HAST非飽和高壓試驗箱的加速測試,僅用2-3個月就完成了原本需要1-2年的耐候性評估,并且精準(zhǔn)定位了在嚴(yán)酷環(huán)境下的失效隱患。
更重要的或許是那些沒有被發(fā)現(xiàn)的問題——那些在熱帶雨季中突然失靈的戶外設(shè)備,在沿海鹽霧中過早老化的通信基站,它們的真正原因,往往能在實驗室的加速老化環(huán)境中被提前發(fā)現(xiàn)。
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